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芯片失效分析

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面对数种失效模式,科睿检测具有丰厚的从业经验与洞察力可替客户制定高效的芯片失效分析流程,并提供专业的失效分析诊断报告。

 

 

科睿检测能做到快速又准确的进行芯片失效定位与分析:EFA(电性失效分析),PFA(物性失效分析),DEFA(动态失效分析),先进工艺筛片分析(DPA)。

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