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HAST测试
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产品名称
HAST测试
产品描述
集成电路芯片、分立器件、晶体管等元器件的耐湿性测试
HAST一般称为高加读温湿度应力试验或是高加速应力试验，科睿检测HAST测试实验室通过施加严酷的温度、湿度并提高水汽压力，水汽通过封装材料或管脚渗透，用来评价元器件在潮湿环境中的可靠性，REI检测拥有专业资质、经验丰富的技术专家团队，同时可根据客户的技术需求，定制推荐合理的测试方案。
服务内容
一、适用测试标准
GB/T 2423.40/IEC 60068-66系列电工电子产品环境试验 试验C:未饱和高压蒸汽恒定湿热JESD22-A110高加速温湿度应力试验
JESD22-A118加速防潮-无偏置高加速温湿度应力试验
AEC-Q汽车零部件车规级标准
二、适用产品范围
集成电路IC、晶体管、MOS管、电阻、电容、电感、LED、光伏元件、机电元件、传感器等。
三、测试方法
U-HAST:无偏压高加速温湿度应力试验，是测试电镀和直接化学腐蚀的首选方法。
B-HAST:偏压高加速温湿度应力试验，与温湿度偏压试验(THB)对产品的破坏机理一致，是THB的加速测试，测试时器件必须以最小的功耗运行。
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常规测试条件 |
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|---|---|
|
温度（℃） |
湿度（%RH） |
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110 |
85 |
|
120* |
85 |
|
130 |
85 |
*注：120℃/85%RH条件仅标准GB/T 2423.40/IEC 60068-66适用
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气候可靠性测试
无
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